TPD3S716-Q1EVM

Texas Instruments
595-TPD3S716-Q1EVM
TPD3S716-Q1EVM

Ürt.:

Açıklama:
Güç Yönetimi IC Geliştirme Araçları TPD3S716-Q1EVM

Stokta Var: 2

Stok:
2 Hemen Gönderilebilir
Fabrika Teslim Süresi:
12 Hafta Gösterilenden daha büyük miktarlar için fabrikada tahmini üretim süresi.
Minimum: 1   Çoklu: 1   Maksimum: 5
Birim Fiyat:
-,-- €
Toplam Fiyat:
-,-- €
Tahmini Gümrük Vergisi:
Bu Ürün ÜCRETSİZ Gönderilir

Fiyatlandırma (EUR)

Miktar Birim Fiyat
Toplam Fiyat
83,85 € 83,85 €

Ürün Niteliği Öznitelik Değeri Özellik Seçin
Texas Instruments
Ürün Kategorisi: Güç Yönetimi IC Geliştirme Araçları
RoHS: N
Evaluation Modules
Power Switch
3.3 V, 5 V
TPD3S716-Q1
TPD3S716
Marka: Texas Instruments
Montaj Ülkesi: Not Available
Dağıtım Ülkesi: Not Available
Menşe Ülke: US
Arayüz Türü: USB
Maksimum Çalışma Sıcaklığı: + 125 C
Minimum Çalışma Sıcaklığı: - 40 C
Ürün Tipi: Power Management IC Development Tools
Vasıf: AEC-Q100
Fabrika Paket Miktarı: 1
Alt kategori:: Development Tools
Bulunan ürünler:
Benzer ürünleri göstermek için en az bir onay kutusu seçin
Bu kategorideki benzer ürünleri göstermek için yukarıda en az bir onay kutusu seçin.
Seçilen özellikler: 0

CNHTS:
8473309000
USHTS:
8473301180
TARIC:
8473302000
MXHTS:
8473300499
ECCN:
EAR99

TPD3S716-Q1EVM Evaluation Module (EVM)

Texas Instruments TPD3S716-Q1EVM Evaluation Module (EVM) is designed to help evaluate the TPD3S716-Q1. The TPD3S716-Q1 is a USB 2.0 interface protection with adjustable current limit and short-to-battery protection. Each evaluation module contains four TPD3S716-Q1 devices. One TPD3S716-Q1 (U1) is configured with two USB 2.0 Type-A connectors (USB1 and USB2) for capturing system-level tests. One TPD3S716-Q1 (U2) is configured with four SMA (S1–S4) connectors to allow 4-port analysis with a vector network analyzer. One TPD3S716-Q1 (U3) is configured with test points for striking ESD to the protection pins. U3 is also configured for capturing clamping waveforms using J3 with an oscilloscope during an ESD test. One Texas Instruments TPD3S716-Q1 (U4) is pinned out for device-level tests.